瑞凱_高低溫試驗箱_恒溫恒濕試驗箱_冷熱沖擊試驗箱
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HAST老化試驗箱非標(biāo)定制

HAST老化試驗箱非標(biāo)定制

產(chǎn)品特點:

可定制BIAS偏壓端子組數(shù),提供產(chǎn)品通電測試

通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問

多層級的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)

便捷的程序入口、試驗設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控

試驗數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸

型號:HAST系列                生產(chǎn)方式: 非標(biāo)定制

品牌: RIUKAI                      產(chǎn)地: 廣東·東莞

非標(biāo)定制產(chǎn)品詳情請咨詢客服

服務(wù)熱線: 400-088-3892
產(chǎn)品簡介 / Introduction

產(chǎn)品 · 詳情product details

HAST

設(shè)備用途Equipment use

HAST設(shè)備用于評估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性。通過溫度、濕度、大氣壓力條件下應(yīng)用于加速濕氣的滲透,可通過外部保護(hù)材料(塑封料或封口),或在外部保護(hù)材料與金屬傳導(dǎo)材料之間界面。它采用了嚴(yán)格的溫度,濕度,大氣壓、電壓條件,該條件會加速水分滲透到材料內(nèi)部與金屬導(dǎo)體之間的電化學(xué)反應(yīng)。失效機制:電離腐蝕,封裝密封性。


準(zhǔn)時交貨準(zhǔn)時交貨率高達(dá)99% 立即咨詢

產(chǎn)品 · 特點Product features

  • 設(shè)計三種控制模式

    不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。

  • 安全多重保護(hù)功能

    各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護(hù);

  • 穩(wěn)定可帶電測試

    可定制BIAS偏壓端子組數(shù),提供產(chǎn)品通電測試;

  • 選擇濕度自由選擇

    飽和(100%R.H濕度)與非飽和(75%R.H濕度)自由設(shè)定;

  • 智能智能化高

    支持電腦連接,
    利用USB數(shù)據(jù)、
    曲線導(dǎo)出保存

HAST-900L高壓加速老化試驗箱

HAST試驗箱參數(shù)規(guī)格


    滿足測試標(biāo)準(zhǔn)

    GB-T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
    JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
    JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
    JESD22-A108 溫度,偏置電壓,以及工作壽命(IC壽命試驗)
    JESD22-A110 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(HAST)
    JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)等

    舉例:

    適用范圍:  該試驗檢查芯片及其他產(chǎn)品材料長期貯存條件下,高溫和時間對器件的影響。本規(guī)范適用于量產(chǎn)芯片驗證測試階段的HAST測試需求,僅針對非密封封裝(塑料封裝),帶偏置(bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測試。
    溫度、濕度、氣壓、測試時間
    ? 通常選擇HAST-96,即:130℃、85%RH、230KPa大氣壓,96hour測試時間。 
    ? 測試過程中,建議調(diào)試階段監(jiān)控芯片殼溫、功耗數(shù)據(jù)推算芯片結(jié)溫,要保證結(jié)溫不能過 高,并在測試過程中定期記錄。結(jié)溫推算方法參考《HTOL測試技術(shù)規(guī)范》。
    ? 如果殼溫與環(huán)溫差值或者功耗滿足下表三種關(guān)系時,特別是當(dāng)殼溫與環(huán)溫差值超過 10℃時,需考慮周期性的電壓拉偏策略。
    ? 注意測試起始時間是從環(huán)境條件達(dá)到規(guī)定條件后開始計算;結(jié)束時間為開始降溫降壓操 作的時間點。

    電壓拉偏

    uHAST測試不帶電壓拉偏, 不需要關(guān)注該節(jié);
    bHAST需要帶電壓拉偏 ,遵循以下原則:
    (1) 所有電源上電,電壓:推薦操作范圍電壓(Maximum Recommended Operating Conditions)
    (2) 芯片、材料功耗小(數(shù)字部分不翻轉(zhuǎn)、輸入晶振短接、其他降功耗方法);
    (3) 輸入管腳在輸入電壓允許范圍內(nèi)拉高。
    (4) 其他管腳,如時鐘端、復(fù)位端、輸出管腳在輸出范圍內(nèi)隨機拉高或者拉低;

HAST設(shè)備

HAST設(shè)備生產(chǎn)廠家

HAST高壓加速老化試驗箱合作案例

生產(chǎn) · 實力Productive strength

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HAST試驗箱

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產(chǎn)品特點:用戶可以查看他們希望查看任何數(shù)據(jù)通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問多層級的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)便捷的程序入口、試驗設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控試驗數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸HAST測試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓,96hour測試時間。
快速溫度變化試驗箱

快速溫度變化試驗箱

產(chǎn)品特點:·多層級密碼安全保護(hù)系統(tǒng)來保護(hù)用戶的寶貴數(shù)據(jù)·可以使用電子表格格式下載試驗數(shù)據(jù)·產(chǎn)品溫度控制:通過提高環(huán)境空氣目標(biāo)溫度來控制產(chǎn)品溫度,進(jìn)而提高產(chǎn)品溫度變化率·系統(tǒng)監(jiān)控:檢測制冷系統(tǒng)的壓力和溫度是否過高,并在故障出現(xiàn)時提醒用戶控制器程序編輯·在單一界面完成程序的所有編輯和查看在單一界面完成程序的所有編輯和查看工作·支持線性溫度控制
步入式高低溫濕熱試驗箱

步入式高低溫濕熱試驗箱

品牌:RIUKAI產(chǎn)地:廣東·東莞內(nèi)箱容積:17000L(可定制)溫度范圍:-40℃~+150℃(可定制低溫-70℃、-60℃、-20℃等)濕度范圍:20%~98%RH(可定制5%~98%RH、10%~98%RH)步入式高低溫濕熱試驗箱是用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試的儀器。
冷熱沖擊試驗箱

冷熱沖擊試驗箱

高溫槽溫度范圍:+60℃~+200℃(非標(biāo)可定制180℃、200℃)低溫槽溫度范圍:A(-55℃~-10℃);B(-65℃~-10℃);C(-80℃~-10℃)升溫時間:+60℃~+200℃≤35min降溫時間:A(+20℃~-55℃)≤70min;B(+20℃~-65℃)≤80min;C(+20℃~-80℃)≤90min試驗方式:氣動切換,吊籃移動式?jīng)_擊恢復(fù)時間:≤5min吊籃移動時間:10S以內(nèi)

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