熱門(mén)關(guān)鍵詞: 高低溫試驗(yàn)箱 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) 無(wú)風(fēng)烤箱 鹽霧試驗(yàn)箱
產(chǎn)品特點(diǎn):
用戶(hù)可以查看他們希望查看任何數(shù)據(jù)
通過(guò)電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問(wèn)
多層級(jí)的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)
便捷的程序入口、試驗(yàn)設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控
試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過(guò)USB接口進(jìn)行傳輸
HAST測(cè)試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓,96hour測(cè)試時(shí)間。
HAST試驗(yàn)箱是利用高溫(通常為130 ℃)、高相對(duì)濕度(約85%)、高大氣壓力的條件(達(dá)3 atm)來(lái)加速潮氣通過(guò)外部保護(hù)材料或芯片引線周?chē)拿芊夥庋b的試驗(yàn)設(shè)備,用于評(píng)估產(chǎn)品及材料在高溫,高濕,高氣壓條件下對(duì)濕度的抵抗能力,加速其失效過(guò)程。
該試驗(yàn)檢查芯片及其他材料長(zhǎng)期貯存條件下,高溫和時(shí)間對(duì)器件的影響。本規(guī)范適用于量產(chǎn)芯片驗(yàn)證測(cè)試階段的HAST測(cè)試需求,僅針對(duì)非密封封裝(塑料封裝),帶偏置(bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測(cè)試。
內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水,符合國(guó)家安全容器規(guī)范;
三道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Wo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺(tái)停機(jī)時(shí)自動(dòng)排除飽和蒸氣壓力、氣動(dòng)機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等
壓力值采實(shí)際感應(yīng)偵測(cè),確保溫度、濕度及壓力值準(zhǔn)確度;
濕度自由選擇飽和(100%R.H濕度)與非飽和(75%R.H濕度)自由設(shè)定;
支持電腦連接,
利用USB數(shù)據(jù)、
曲線導(dǎo)出保存
GB-T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗(yàn) 第2-66部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測(cè)試
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無(wú)偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度,偏置電壓,以及工作壽命(IC壽命試驗(yàn))
JESD22-A110 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)(HAST)
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無(wú)偏壓HAST(無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
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