電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計，在產(chǎn)品的制造過程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動，終的成品不可能全部達(dá)到預(yù)期的固有可靠性。

    電子設(shè)備能否可靠地工作的基礎(chǔ)是電子元器件能否可靠地工作。如果將早期失效的元器件裝上整機、設(shè)備，就會使得整機、設(shè)備的早期失效故障率大幅度增加，其可靠性不能滿足要求，而且還要付出極大的代價來維修。

    環(huán)境應(yīng)力篩選試驗方案的設(shè)計原則

    篩選效率　W＝剔除次品數(shù)/實際次品數(shù) 

    篩選淘汰率Ｑ＝剔降次品數(shù)/進(jìn)行篩選的產(chǎn)品總數(shù)

     理想的可靠性篩選應(yīng)使W=1，L=０，這樣才能達(dá)到可靠性環(huán)境應(yīng)力篩選試驗的目的。Q值大小反映了這些產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中存在問題的大小。Q值越大，表示這批產(chǎn)品篩選前的可靠性越差，亦即生產(chǎn)過程中所存在的問題越大，產(chǎn)品的成品率低。

    篩選項目選擇越多，應(yīng)力條件越嚴(yán)格，劣品淘汰得越徹底，其篩選效率就越高，篩選出的元器件可靠性水平也越接近于產(chǎn)品的固有可靠性水平。但是要付出較高的費用、較長的周期，同時還會使不存在缺陷、性能良好的產(chǎn)品的可靠性降低。

    故篩選條件過高就會造成不必要的浪費，條件選擇過低則劣品淘汰不徹底，產(chǎn)品的使用可靠性得不到保證。由此可見，篩選強度不夠或篩選條件過嚴(yán)都對整批產(chǎn)品的可靠性不利。

    為了有效而正確地進(jìn)行可靠性篩選，必須合理地確定篩選項目和篩選應(yīng)力，為此，必須了解產(chǎn)品的失效機理。產(chǎn)品的類型不同，生產(chǎn)單位不同以及原材料及工藝流程不同時，其失效機理就不一定相同，因而可靠性篩選的條件也應(yīng)有所不同。

     元器件篩選方案的制訂要掌握以下原則：

    *為提高篩選效率，可進(jìn)行強應(yīng)力篩選，但不應(yīng)使產(chǎn)品產(chǎn)生新的失效模式；

    *對被篩選對象可能的失效模式應(yīng)有所掌握；

     *為制訂合理有效的環(huán)境應(yīng)力篩選試驗方案，必須了解各有關(guān)元器件的特性、材料、封裝及制造技術(shù)。