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溫度對(duì)大功率LED可靠性的影響

作者: 網(wǎng)絡(luò) 編輯: 瑞凱儀器 來(lái)源: 網(wǎng)絡(luò) 發(fā)布日期: 2020.06.19

    電子產(chǎn)品的可靠性和壽命對(duì)溫度非常敏感。溫度升高時(shí),器件故障率迅速增大。根據(jù)阿侖尼烏斯模型可知,當(dāng)溫度超過(guò)一定值時(shí),器件的壽命呈指數(shù)規(guī)律下降。大功率LED的結(jié)溫常常比較高,這是因?yàn)?1)芯片的內(nèi)量子效率不可能達(dá)到100%。注入的電荷(空穴)只有一部分發(fā)生輻射復(fù)合,產(chǎn)生光子,另一部分則終變成熱; (2) LED芯片材料與其周圍材料的折射系數(shù)的不一致,致使芯片內(nèi)部產(chǎn)生的一部分光子無(wú)法順利地從芯片中溢出,而是在界面處產(chǎn)生全反射,返回到芯片內(nèi)部。熒光粉激發(fā)出的光也有一部分進(jìn)入芯片內(nèi)部。這些光在LED芯片內(nèi)部經(jīng)過(guò)多次反射后終被芯片材料或襯底吸收,以晶格振動(dòng)的形式變成熱; (3) 芯片上的電極結(jié)構(gòu)、表面ITO層和PN結(jié)的材料等均存在一定的電阻值,當(dāng)電流流過(guò)時(shí),這些電阻就會(huì)產(chǎn)生焦耳熱。從電能到終從芯片出射的光能之間的變換有必然的損耗,損耗的那部分能量轉(zhuǎn)化為熱量,使芯片的溫度不斷升高,這就是LED芯片的自加熱效應(yīng)。如果沒(méi)有良好的散熱,使芯片產(chǎn)生的熱量散發(fā)不出去,那么芯片的結(jié)溫就會(huì)過(guò)高,引起LED光源性能的下降和可靠性的降低,終導(dǎo)致失效。

溫度對(duì)大功率LED可靠性的影響

    溫度過(guò)高會(huì)引起芯片性能和熒光粉性能的下降。對(duì)LED芯片性能的影響主要表現(xiàn)在使內(nèi)量子效率降低。內(nèi)量子效率是溫度的函數(shù),溫度越高內(nèi)量子效率越低。這是因?yàn)闇囟壬撸娮优c空穴的濃度會(huì)增加,禁帶寬度會(huì)減小,電子遷移率將減小,且勢(shì)阱中電子與空穴的輻射復(fù)合幾率降低,造成非輻射復(fù)合,從而降低LED的內(nèi)量子效率。溫度升高導(dǎo)致芯片的藍(lán)光波長(zhǎng)向長(zhǎng)波方向偏移,使芯片的發(fā)射波長(zhǎng)和熒光粉的激發(fā)波長(zhǎng)不匹配,也會(huì)造成白光LED外部光提取效率的降低。因?yàn)闇囟却銣缧?yīng),溫度的升高會(huì)使熒光粉本身的量子效率降低。另外,由于硅膠和熒光粉顆粒之間的折射率和熱膨脹系數(shù)不匹配,過(guò)高的溫度也會(huì)使熒光粉層的光轉(zhuǎn)換效率下降。
    溫度對(duì)LED光源可靠性的影響主要表現(xiàn)在使LED出現(xiàn)光通量的下降和其他失效形式,縮短LED的壽命。過(guò)高的溫度會(huì)使LED芯片壽命變短。因?yàn)楦邷貢?huì)使芯片材料老化加快、性能下降。高溫引起的內(nèi)量子效率的降低也會(huì)使更多的電不能以光的形式透射出去,而是轉(zhuǎn)化成熱使結(jié)溫升高,更加加速LED芯片的老化;高溫也會(huì)引起封裝材料降解加快、性能下降。過(guò)高的溫度會(huì)使灌封膠的顏色變黃,使得LED光效急劇降低
    或造成災(zāi)難性失效。因?yàn)槟z類的封裝材料為熱的不良導(dǎo)體,結(jié)溫和外界環(huán)境溫度之間的溫度差會(huì)造成LED內(nèi)部較高的溫度梯度,由于材料之間的CTE失配,使LED發(fā)生分層、裂紋、金線斷裂等失效形式。
    研究LED光源在高溫下的失效機(jī)制,找出高溫下會(huì)引發(fā)的缺陷或者設(shè)計(jì)的薄弱環(huán)節(jié),對(duì)提高LED光源的可靠性具有非常重要的意義。對(duì)于LED這類超長(zhǎng)壽命的電子器件,通常使用比正常使用時(shí)所預(yù)期的溫度更高的溫度來(lái)進(jìn)行可靠性試驗(yàn),即加速試驗(yàn)。施加的加速條件會(huì)使?jié)撛诘娜毕莼蛘咴O(shè)計(jì)的薄弱環(huán)節(jié)在較短的時(shí)間內(nèi)發(fā)展為實(shí)際的失效,確認(rèn)溫度可能導(dǎo)致的失效的形式和機(jī)制。
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