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PCT試驗(yàn)箱測(cè)試除了觀察外觀及孔壁,還需觀察哪些?

作者: 網(wǎng)絡(luò) 編輯: 瑞凱儀器 來(lái)源: 網(wǎng)絡(luò) 發(fā)布日期: 2019.12.19
    【問(wèn)】
    經(jīng)過(guò) PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱測(cè)試后我們除了觀察外觀及孔壁有無(wú)問(wèn)題外,還需觀察哪些?一般BGA在生產(chǎn)過(guò)程中常發(fā)生在PCT后之情況為何?
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱測(cè)試
    【答】
    PCT高壓加速老化測(cè)試,主要功能是利用高溫高濕對(duì)電子零件的影響,來(lái)測(cè)試電子零件材料與制造質(zhì)量的水平。在BGA產(chǎn)品方面,常用來(lái)監(jiān)控Solder mask的adhesion有無(wú)異常,同時(shí)也會(huì)用來(lái)測(cè)試基材是否有離子遷移(―on Migration)或漏電(Leaking)現(xiàn)象。
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