HAST試驗箱為何成為集成電路IC可靠性測試的佳選？
作者：
salmon范
編輯：
瑞凱儀器
來源：
shengyiguangdian.cn
發(fā)布日期： 2020.06.22
目前，在集成電路IC領(lǐng)域，環(huán)境可靠性測試設(shè)備主要有高低溫試驗箱以及HAST試驗箱。但為什么HAST試驗箱會成為集成電路IC可靠性測試的佳選呢？這由于HAST試驗箱結(jié)合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗，在高壓條件下加速濕氣滲透到外外部保護物料（塑封料或絲印）或沿外保護物料與金屬導(dǎo)電層之間界面滲入，本測試用于識別封裝內(nèi)部的失效機制，并且是破壞性的。
高低溫試驗箱可分為高低溫運行測試、高低溫貯存測試、高低溫交變測試、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試等，雖然可測試的項目較多，可測試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命，但只是單一的溫濕度測試不夠精確的測試產(chǎn)品在氣壓下的使用情況。而HAST高壓加速老化測試集溫度-濕度-壓力（非飽和可調(diào)）一體，多方面測試集成電路IC，評估產(chǎn)品的失效機制。
高低溫試驗箱的產(chǎn)品優(yōu)勢：
1、極限測試溫度可達300℃，低溫-200℃，電耗低；
2、低溫長期1000小時以上不結(jié)霜；
3、可編程控制，可通過互聯(lián)網(wǎng)、WIFI、手機APP等監(jiān)控設(shè)備運行情況。
HAST試驗箱的產(chǎn)品優(yōu)勢：
1、濕度可調(diào)式溫度-濕度-壓力一體試驗設(shè)備，測試穩(wěn)定性高；
2、可配置多個測試端口供給用戶產(chǎn)品帶電測試；
3、設(shè)備升溫時自動預(yù)排空氣潔凈度，確保箱內(nèi)純凈度；
4、箱體采用耐高壓設(shè)計技術(shù)，確保設(shè)備、操作人員安全。
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