HAST試驗箱為何成為集成電路IC可靠性測試的佳選?
作者:
salmon范
編輯:
瑞凱儀器
來源:
shengyiguangdian.cn
發(fā)布日期: 2020.06.22
目前,在集成電路IC領(lǐng)域,環(huán)境可靠性測試設(shè)備主要有高低溫試驗箱以及HAST試驗箱。但為什么HAST試驗箱會成為集成電路IC可靠性測試的佳選呢?這由于HAST試驗箱結(jié)合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗,在高壓條件下加速濕氣滲透到外外部保護物料(塑封料或絲印)或沿外保護物料與金屬導(dǎo)電層之間界面滲入,本測試用于識別封裝內(nèi)部的失效機制,并且是破壞性的。
高低溫試驗箱可分為高低溫運行測試、高低溫貯存測試、高低溫交變測試、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試等,雖然可測試的項目較多,可測試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命,但只是單一的溫濕度測試不夠精確的測試產(chǎn)品在氣壓下的使用情況。而HAST高壓加速老化測試集溫度-濕度-壓力(非飽和可調(diào))一體,多方面測試集成電路IC,評估產(chǎn)品的失效機制。
高低溫試驗箱的產(chǎn)品優(yōu)勢:
1、極限測試溫度可達300℃,低溫-200℃,電耗低;
2、低溫長期1000小時以上不結(jié)霜;
3、可編程控制,可通過互聯(lián)網(wǎng)、WIFI、手機APP等監(jiān)控設(shè)備運行情況。
HAST試驗箱的產(chǎn)品優(yōu)勢:
1、濕度可調(diào)式溫度-濕度-壓力一體試驗設(shè)備,測試穩(wěn)定性高;
2、可配置多個測試端口供給用戶產(chǎn)品帶電測試;
3、設(shè)備升溫時自動預(yù)排空氣潔凈度,確保箱內(nèi)純凈度;
4、箱體采用耐高壓設(shè)計技術(shù),確保設(shè)備、操作人員安全。
