聚焦瑞凱,傳遞環(huán)境檢測(cè)行業(yè)新動(dòng)態(tài)

高溫板(IC托盤(pán))成功完成1000小時(shí)135度測(cè)試

作者: salmon范 編輯: 瑞凱儀器 來(lái)源: shengyiguangdian.cn 發(fā)布日期: 2020.11.02

    高溫板即IC托盤(pán),IC托盤(pán)是半導(dǎo)體芯片企業(yè)為其芯片作包裝及烘烤測(cè)試所用的載體。因?yàn)槠渚呖梢栽?20℃~220℃ 不等的烘烤(BAKE)環(huán)境下不變形的特性,所以電子廢料業(yè)內(nèi)俗稱(chēng)為“高溫板”。近日,東莞市瑞凱環(huán)境檢測(cè)儀器有限公司的客戶(hù)伙伴上海某芯片制造商利用瑞凱高低溫試驗(yàn)箱對(duì)高溫MCU板做高溫試驗(yàn),并成功通過(guò)1000小時(shí)135度測(cè)試。

高低溫試驗(yàn)箱,高溫板,IC托盤(pán)

    這塊高溫MCU板非常適合在高溫場(chǎng)景下對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行控制。比如在125度老化測(cè)試中,對(duì)芯片IO管腳的翻轉(zhuǎn)控制;比如在135度高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)對(duì)芯片進(jìn)行的循環(huán)測(cè)試,控制芯片的反復(fù)Reset等。使用高溫板可以避免待測(cè)芯片在高低溫試驗(yàn)箱內(nèi),需要拉出很長(zhǎng)的控制線到外部的種種不便和速度限制。
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