電子設(shè)備熱循環(huán)加速可靠性試驗(yàn)策劃
作者：
網(wǎng)絡(luò)
編輯：
瑞凱儀器
來(lái)源：
網(wǎng)絡(luò)
發(fā)布日期： 2021.07.14
加速可靠性試驗(yàn)是使用相同的損傷機(jī)理，比產(chǎn)品使用所需更短的時(shí)間去激發(fā)失效或累積損傷。加速方法主要包括增加壽命控制變量的量級(jí)和增加頻次兩類。
關(guān)鍵要理解加速試驗(yàn)和被加速的實(shí)際使用環(huán)境之間的關(guān)系，基于適合的損傷、失效機(jī)理和服務(wù)環(huán)境來(lái)選擇試驗(yàn)類型和試驗(yàn)條件。
電子設(shè)備熱循環(huán)有三種類型：
1）功能循環(huán)：模擬實(shí)際工作狀態(tài)，包括元器件內(nèi)部功耗，外部溫度變化、熱傳導(dǎo)。
2）溫度循環(huán)：環(huán)境溫度交替變化，溫變率應(yīng)低于20℃/min，以避免熱沖擊，溫度保持時(shí)間推薦大于15min。
3）熱沖擊循環(huán)：溫變速率30℃/min以上，熱沖擊和溫度循環(huán)失效模式不同，溫度循環(huán)與熱沖擊循環(huán)的區(qū)別。
電子設(shè)備焊點(diǎn)疲勞失效檢查一般有定期焊點(diǎn)裂紋的目視檢查，定期破壞焊點(diǎn)來(lái)檢查初始強(qiáng)度的降低情況，和監(jiān)測(cè)一些初始電性能變化，如：電阻的增加。
考慮到失效檢查的方便性和試驗(yàn)時(shí)間限制，推薦使用電性能監(jiān)測(cè)的方法。試驗(yàn)過(guò)程中出現(xiàn)電連續(xù)性首次中斷（電阻大于1000Ω），并且在其后續(xù)增加的10%循環(huán)內(nèi)出現(xiàn)9次被確認(rèn)的中斷，即可確認(rèn)為焊點(diǎn)疲勞失效。
試驗(yàn)方案策劃要考慮電子設(shè)備的自變量參數(shù)，包括設(shè)計(jì)參數(shù)、工藝參數(shù)、產(chǎn)品參數(shù)、使用環(huán)境參數(shù)等，具體比如：溫度波動(dòng)、元器件尺寸、熱膨脹系數(shù)、焊點(diǎn)高度、引線硬度、失效概率等。
評(píng)估自變量參數(shù)的水平和范圍，在不改變失效機(jī)理的前提下，盡量提高變量參數(shù)范圍，縮短加速試驗(yàn)時(shí)間。根據(jù)自變量參數(shù)選值，預(yù)估加速可靠性試驗(yàn)預(yù)期循環(huán)次數(shù)和試驗(yàn)時(shí)間，使試驗(yàn)經(jīng)費(fèi)控制在可接受范圍之內(nèi)。
關(guān)于試驗(yàn)樣本數(shù)量，由于焊點(diǎn)蠕變疲勞失效是概率分布，為了便于統(tǒng)計(jì)出合理的測(cè)試結(jié)果，需要至少32個(gè)試驗(yàn)樣本。
試驗(yàn)測(cè)試板的組裝和加工應(yīng)盡可能和實(shí)際產(chǎn)品相同。電子產(chǎn)品存儲(chǔ)一年后焊點(diǎn)的焊料晶粒組織會(huì)明顯粗糙化。試驗(yàn)測(cè)試板在加速試驗(yàn)前應(yīng)該進(jìn)行熱老化和環(huán)境應(yīng)力篩選，推薦在(100-125)℃下，熱老化(100-300)h。熱老化后的測(cè)試板在室溫下存儲(chǔ)一段時(shí)間，以便焊接結(jié)構(gòu)穩(wěn)固。
試驗(yàn)過(guò)程中每個(gè)熱循環(huán)升降溫速率不應(yīng)超過(guò)20℃/min，有足夠的溫度保持時(shí)間，使焊點(diǎn)內(nèi)應(yīng)力松弛。
試驗(yàn)過(guò)程中需要對(duì)試驗(yàn)箱運(yùn)行溫度、試驗(yàn)基板不同部位和元器件進(jìn)行溫度測(cè)量。
對(duì)于試驗(yàn)過(guò)程中出現(xiàn)的失效，進(jìn)行目視檢查，必要時(shí)進(jìn)行金相分析，評(píng)定失效模式。
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