試驗(yàn)條件：將電子產(chǎn)品放入高低溫試驗(yàn)箱通電老化
    高溫參數(shù)設(shè)置：溫度45℃、濕度80% RH、時(shí)間24 hrs
    低溫參數(shù)設(shè)置：低溫0℃、時(shí)間24 hrs
    試驗(yàn)方法：
    試驗(yàn)一：高溫運(yùn)行
    1、樣品應(yīng)在不包裝、不同點(diǎn)和正常工作位置的狀態(tài)下放入具有室溫的試驗(yàn)箱內(nèi)，

    2、箱內(nèi)溫度逐漸升溫至所設(shè)置的溫度，當(dāng)電子產(chǎn)品達(dá)到溫度穩(wěn)定后，接通電源持續(xù)工作16小時(shí)，

    3、樣品斷開電源，箱內(nèi)溫度降低至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下，

    4、恢復(fù)兩小時(shí)；
    5、對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品進(jìn)行全方面的檢測(cè)。
    試驗(yàn)二：低溫運(yùn)行
    1、電子產(chǎn)品應(yīng)在不包裝、不同點(diǎn)和正常工作位置的狀態(tài)下放入具有室溫的試驗(yàn)箱內(nèi);，
    2、高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)溫度逐漸降低至所設(shè)置的溫度，當(dāng)樣品達(dá)到溫變穩(wěn)定后擱置2小時(shí)，然后接通電源持續(xù)工作1小時(shí)；
    3、樣品斷開電源，試驗(yàn)箱內(nèi)溫度降低至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下，
    4、箱內(nèi)溫度上升至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下，
    5、恢復(fù)兩小時(shí)；
    6、對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品進(jìn)行全方面的檢測(cè)；判定標(biāo)準(zhǔn)：
    試驗(yàn)結(jié)束后，將樣品拿入室溫中恢復(fù)至少或以上，再對(duì)樣品進(jìn)行外觀、功能檢驗(yàn)產(chǎn)品外觀應(yīng)無損、功能正常、結(jié)構(gòu)件與控制元件應(yīng)完整、無機(jī)械損傷。