因?yàn)槟壳暗臏y(cè)試方式都不足以代表完整LED芯片的使用壽命和需花費(fèi)冗長(zhǎng)的時(shí)間。因此，有其他的團(tuán)隊(duì)開(kāi)始研究加速壽命測(cè)試方式和壽命推估模型，而Highlyacceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)是目前有可能拿來(lái)做加速壽命推估的測(cè)試方法。