環(huán)境應(yīng)力篩選（ess）設(shè)備

環(huán)境應(yīng)力篩選（ess）設(shè)備，亦稱ess試驗箱，是通過向電子產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力，使得由不良元器件、零部件或工藝缺陷等引起的產(chǎn)品早期缺陷加速變成故障，并加以發(fā)現(xiàn)和排除的過程，溫變速率有：5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min等可選；溫度范圍有：-70～150℃、-60～150℃、-40～150℃、-20～150℃等可選濕度范圍有：5～98%RH、10～98%RH、20～98%RH等可選

步入式高低溫箱

品牌：RIUKAI                產(chǎn)地：廣東·東莞內(nèi)箱容積：4800L（可定制）   溫度范圍：-40℃～+150℃（可定制低溫-70℃、-60℃、-20℃等）濕度范圍：20%～98%RH（可定制5%~98%RH、10%~98%RH）步入式高低溫箱提供需要可同時放置大量的待測物品進行可靠度試驗，以縮短單一產(chǎn)品的總試驗時間，或進行產(chǎn)品的溫濕度應(yīng)力篩選(ess)，及需要活動空間較大的動態(tài)試驗，還有體積較大的產(chǎn)品皆適用于此設(shè)備。

步入式高低溫試驗箱

品牌：RIUKAI                產(chǎn)地：廣東·東莞內(nèi)箱容積：按需定制           溫度范圍：-40℃～+150℃（可定制低溫-70℃、-60℃、-20℃等）濕度范圍：20%～98%RH（可定制5%~98%RH、10%~98%RH）步入式高低溫試驗箱提供需要可同時放置大量的待測物品進行可靠度試驗，以縮短單一產(chǎn)品的總試驗時間，或進行產(chǎn)品的溫濕度應(yīng)力篩選(ess)，及需要活動空間較大的動態(tài)試驗，還有體積較大的產(chǎn)品皆適用于此設(shè)備。

電子產(chǎn)品ess環(huán)境應(yīng)力篩選測試規(guī)范

ess（環(huán)境應(yīng)力篩選試驗）是用在生產(chǎn)小批量階段，是生產(chǎn)工藝驗證的一個環(huán)節(jié)，旨在驗證生產(chǎn)工藝的一致性、穩(wěn)定性是否滿足大批量生產(chǎn)要求；通過ess工作發(fā)現(xiàn)早期失效個體，并通過失效分析、改進、再驗證，使產(chǎn)品批量生產(chǎn)工藝穩(wěn)定性達到研發(fā)預(yù)期，產(chǎn)品發(fā)貨后早期失效率低。

高壓蒸煮試驗（PCT ）

高壓蒸煮試驗PCT(PressureCookerTest）是國內(nèi)外常用的耐濕性加速試驗。PCT試驗條什是恒溫、恒壓、相對濕度100%。把器件置于密閉系統(tǒng)，通過改變溫度進行兒個應(yīng)力組的試驗，得到器件的失效分布規(guī)律，從而推出常溫、常壓、100%RH時器件的壽命特征。由PCT試驗不能得到低于100%RH（如:85%或70%RH）的通常環(huán)境下相對濕度的壽命情況。

PCT、uHAST、THT三者之間的差別

PCT：高壓蒸煮試驗PressureCookTest（AutoclaveTest）目的：評估產(chǎn)品在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程；THT：加速式溫濕度試驗（TemperatureHumidityTest）目的：評估產(chǎn)品在高溫，高濕條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程；uHAST：高加速溫濕度試驗（ubiasHighlyAcceleratedStressTest）目的：評估產(chǎn)品在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。

ess試驗溫度循環(huán)次數(shù)確定方法研究

目前，電子裝備環(huán)境應(yīng)力篩選主要依據(jù)GJB1032-1990《電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法》，但由于該標準的頒發(fā)時間較早，隨著科技的發(fā)展和進步，對電子設(shè)備可靠性指標要求也越來也高，循環(huán)次數(shù)選取是一個值得探討的問題。

電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選技術(shù)（ess）

環(huán)境應(yīng)力篩選技術(shù)（ess）經(jīng)過一段時間的發(fā)展，現(xiàn)在已經(jīng)成為很多生產(chǎn)廠家用于剔除批量生產(chǎn)產(chǎn)品早期失效的一種非常有效的工具。據(jù)統(tǒng)計，針對電子行業(yè)的產(chǎn)品，溫度循環(huán)應(yīng)力被認為是對產(chǎn)品篩選有效的單一應(yīng)力，這里所說的溫度循環(huán)應(yīng)力除了溫度的上下限之外，溫度變化速率對篩選起到關(guān)鍵的作用。

環(huán)境應(yīng)力篩選（ess）誘發(fā)故障機理及應(yīng)力參數(shù)的確定

環(huán)境應(yīng)力篩選（ess）是通過向產(chǎn)品施加加速環(huán)境應(yīng)力，將存在于產(chǎn)品內(nèi)部的潛在缺陷在短時間內(nèi)變成故障，并加以發(fā)現(xiàn)和排除的過程。環(huán)境應(yīng)力篩選不是一般接受/拒收意義上的試驗，而是一種工藝手段，是發(fā)現(xiàn)和剔除不良元器件、工藝缺陷、設(shè)計缺陷及其它原因造成的早期故障的有效工藝手段，它不僅應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，而且還應(yīng)用于產(chǎn)品的研制階段。

按有關(guān)標準進行ess時常遇到的問題

GJB1032第1節(jié)明確，本標準適用于地面固定設(shè)備、地面移動設(shè)備艦船用設(shè)備、飛機用設(shè)備及外掛、導彈用設(shè)備上的電子產(chǎn)品，且在其第五節(jié)明確了篩選條件:80~120h的溫度循環(huán)和10~20min.0.04g/Hz的隨機振動。這是不合適的，因為ess的目的是剔除早期缺陷，同樣的產(chǎn)品用在不同環(huán)境中表現(xiàn)出的故障特征是不一樣的。舉一個簡單的例子來說，設(shè)某電子產(chǎn)品中存在固有缺陷a.b.c.d。