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GB_T 2423.15-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga：和導則：穩(wěn)態(tài)加速度
2024-12-11
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GB_T 2423.16-2022 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導則：長霉
2024-12-11
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GB_T 2423.18-2021 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
2024-12-11
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GB_T 5170.21-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢驗方法 振動(隨機)試驗用液壓振動臺
2024-12-11
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GB_T 2423.17-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧
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GB_T 2423.10-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Fc：振動(正弦)
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GB_T 2423.11-1997 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Fd寬頻帶隨機振動—一般要求
2024-12-11
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GB_T 2423.20-2014 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kd：接觸點和連接件的硫化氫試驗
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GB_T 2423.24-2022 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗S：模擬地面上的太陽輻射及太陽輻射試驗和氣候老化試驗導則
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GB_T 2423.28-2005電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗T
2024-12-11
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